顕微鏡

透過型・走査型電子顕微鏡 (TEM, SEM)

JEOL JEM-2100(EDX付)、日立 H-7000
日立S-4800(EDX(堀場 EMAX EX-250)付)、S-4300(EDX(堀場 EMAX EX-220)付)、S-3000N

走査型プローブ顕微鏡システム (SPM)

日立（セイコーインスツルメンツ）AFM5400E, AFM5300L

デジタルマイクロスコープ

ライカマイクロシステムズ　DVM5000

X線光電子分析装置（ESCA)

X線光電子分析装置（ESCA)

アルバック･ファイ　Quantera-SXM

X線CTスキャン

X線CTスキャン

SKYSCA　SkyScan 1172

波長分散型蛍光Ｘ線分析装置

波長分散型蛍光Ｘ線分析装置(XRF)

ブルカー・AXS社製　S8 TIGER-MA 1kW

X線回折装置

超高輝度X線回折装置

リガク FR-E SuperBright

有機微量元素分析装置

有機微量元素分析装置 (CHNS)

J･Science･Lab CHNコーダー/JM10

分光計

円二色性分散計 (CD)

日本分光 J820P

蛍光分光光度計

浜松ホトニクス Quantaurus-Tau(蛍光寿命測定装置)
浜松ホトニクス Quantaurus-Qy(絶対PL量子収率測定装置)
日本分光　FP-8600(分光蛍光光度計)

テラヘルツ分光走査型顕微鏡

THz-TDS

フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)

Perkin Elmer Spectrum100(透過型分光計)
日本分光FT-IR-460Plus、IRT-30-16(顕微・反射型分光計)

プローブ式分光計（持出可）

米ASI社製React IR 4000

顕微・接触型分光計

米SensIR社製Illuminat IR

旋光度計

日本分光　P-2300

顕微レーザーラマン分光システム

日本分光　NRS-1000

紫外可視近赤外分光光度計 (UV/VIS/NIR)

Perkin Elmer Lamda950

カメラ（超高速度、高速度、PIV等）

超高速度撮影装置（持出可）

NAC FS501、島津製作所　HyperVision HPV-2A

光増幅光学装置（持出可）

NAC ILS

高速度ビデオ装置（持出可）

NAC HS-4540-2、NAC MEMECAM GX-8

熱画像解析装置（持出可）

ニコン LAIRD 3ASH、セキテクノトロン SC7500STEC

粒子画像流速測定装置（PIV)（持出可）

日本レーザー　PIV

フェムト秒ファイバーレーザー

AISIN　BS-60-YS(持出可)

誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-AES)

誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-AES)

堀場・JOVIN YBON ULTIMA2

核磁気共鳴装置 (FT-NMR)

柳戸地区

日本電子 ECA-600 (600MHz)、ECA-500 (500MHz)、ECX-400P (400MHz)、
NM-93030CPM (固体測定ユニット)

医学地区

Bruker Biospin AVANCE�V800、Bruker Biospin AVANCE�V600

質量分析装置

質量分析装置 (MS)

日本電子 JMS-700/GI 、JMS-AMSUN200/GI (K-9)、GC MateII、 JMS-T100TD、島津　AXIMA

液体クロマトグラフィ (HPLC)

Agilent-1100、島津 Nano-LC

電子スピン共鳴分析装置 (ESR)

柳戸地区

日本電子 JES-FA100

医学地区

Bruker Biospin EMXmicro

熱分析装置

熱分析システム (DSC, TG/DTA, TMA)

SII EXSTAR-6000

粘弾性測定装置

動的粘弾性測定装置（DMA）

TA Instruments Q800KG

レオメータ

TA Instruments　AR-G2 KG

粒子径等測定装置

ナノ粒子トラッキング解析式　粒子径測定装置

Nanosight Pro

フロー式粒子像分析装置

Malvern FPIA-3000

粒子径ゼータ電位分子量測定装置

Malvern ゼータサイザーナノZS

その他

イオンミリング装置、ダイヤモンドワイヤソー、ガラスナイフ作成器、 超ミクロトーム、オスミウムコーター、カーボンコーター、イオンスパッタ、真空蒸着装置、実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、画像処理システム など

---