岐阜大学質量分析装置 (MS)
日本電子 JMS-MStation 700（二重収束）
日本電子 JMS-AMSUN200/GI (K9)（四重極型）
日本電子 GC Mate II（GCMS システム）
日本電子 JMS-T100LP (AccuTOF LC-plus)
島津 AXIMA-Resonance
| 装置の概要 質量分析装置は、超伝導核磁気共鳴装置とともに、特に有機化合物の構造解析に威力を発揮する。分析に必要とされる化合物の量は数ナノグラムで、その試料分子に由来するマスフラグメントへの開裂パターンを測定し、試料の同定，定量を行うことができる。試料は、直接、間接、ガスクロマトグラフィー(GC)等で導入され、主に、電子衝撃(EI)法、化学イオン化(CI)法、高速原子衝突(FAB)法でイオン化される。 以下に示す5種類の装置が設置されている。化合物の種類や測定の目的別に機種を選択することができる。 |
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 JMS-MStation 700（二重収束） 設置場所：機器分析室１ |
装置の概要 本装置は、イオン源をはじめとする各種パラメータのオートチューニング機能を搭載した、フルコンピュータコントロールを特長とする高分解能分析計です。ルーチン測定はもとより高分解能測定など、あらゆるモードに対して高品質な分析結果 が容易に得られます。 高いイオン収束作用をもつQレンズを用いており、従来形装置と比べて同一分解能条件における使用可能スリット幅を広く設定でき、超微量高感度分析が可能。さらに、高加速イオン源と高電圧印加コンバージョンダイノード形イオン検出器を装備しており、正負イオンの高感度測定に極めて有効です。分解能は、60,000以上です。高質量領域においても正確に質量決定することができます。主スリット、中間スリットおよびコレクタスリットは、すべてコンピュータ制御されています。このため極めて容易な操作で測定に必要な分解能が再現性良く得られます。 仕様 測定質量範囲：1～2,400ダルトン（加速電圧 1 kVで24,000） 分解能：60,000 試料導入；直接、間接、GC（LC） イオン源：EI、CI、 FAB 測定モード：低分解能測定、高分解能測定、正・負イオン その他：リンクトスキャン |
 日本電子 JMS-AMSUN200/GI (K9) （四重極型） 設置場所：機器分析室１ |
仕様 測定質量範囲：1～1,000ダルトン 分解能：>2,000 試料導入：GC イオン源：EI, CI 測定モード：低分解能測定 |
 日本電子 GC Mate II （GCMS システム） 設置場所：機器分析室１ |
装置の概要 本装置は、中規模クラスの装置で質量分析の最新技術を全てカバーするというわけにはいきませんが、質量の測定範囲はm/zが1,000までです。分解能は5,000で、いわゆるミリマス測定が可能です。 試料の導入は、ガスクロマトグラフィーによる方法（GC-MS）とイオン源に直接導入する方法（DI）のどちらかを選ぶことができます。試料のイオン化は、電子によるイオン化法（EI）、試薬ガスを用いる化学イオン化法（CI）、Fast Atom Bombardment（FAB）が可能です。従って、ガスクロマトグラフィーで分析可能な低分子揮発性化合物はもちろんのこと、アミノ酸等のイオン性化合物も質量測定が可能です。 チューニングとキャリブレーションはパソコンによって制御されているので、光学系を手で操作することなく、パソコン画面の操作だけで望む分解能を得ることができます。 仕様 測定質量範囲：1～1,000ダルトン（加速電圧 2.5 kV）、 1～2,000ダルトン（加速電圧 1.25 kV） 分解能：500, 1000, 3000, 5000 （コンピュータコントロール４段切り替え） 試料導入：直接導入、GC イオン源：EI, CI, FAB 測定モード：低分解能測定、正、負イオン検出可 |
 日本電子 JMS-T100LP (AccuTOF LC-plus) 設置場所：機器分析室１ |
仕様 測定質量範囲：1～2,000ダルトン（加速電圧 2.5 kV） 分解能：6,000 試料導入；直接、間接、GC（LC） イオン源：ESI、DART 測定モード：低分解能測定、高分解能測定、 正・負イオン検出可 |
 島津 AXIMA-Resonance 設置場所：機器分析室１ |
仕様 試料導入；直接 イオン源：MALDI 測定モード：MS測定、MS/MS測定 MS測定：質量範囲 m/z 100-12,000； 分解能＞8,000；感度 500 amol； 質量精度 5 ppm 外部標準 MS/MS測定：質量範囲 m/z 100-5,000； 感度 500 amol； 質量精度 20 ppm 外部標準 |
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