機器分析分野

機器一覧

顕微鏡

透過型電子顕微鏡 (TEM)

JEOL JEM-2100 (EDX付)
　

走査型電子顕微鏡 (SEM)

日本電子JSM-IT810 (SHL)
日立S-4800(EDX(堀場 EMAX EX-250)付)、S-4300(EDX(堀場 EMAX EX-220)付)
　

走査型プローブ顕微鏡システム (SPM)

日立（セイコーインスツルメンツ）AFM5400E, AFM5300L
　

デジタルマイクロスコープ

ライカマイクロシステムズ　DVM5000
　

X線光電子分析装置（ESCA）

X線光電子分析装置（ESCA）

アルバック･ファイ　Quantera-SXM
　

X線CTスキャン

X線CTスキャン

SKYSCA　SkyScan 1172
　

波長分散型蛍光Ｘ線分析装置

波長分散型蛍光Ｘ線分析装置(XRF)

ブルカー・AXS社製　S8 TIGER-MA 1kW
　

X線回折装置

超高輝度X線回折装置

リガク FR-E SuperBright
　

有機微量元素分析装置

有機微量元素分析装置 (CHN)

J･Science･Lab CHNコーダー/JM10
　

分光計

円二色性分散計 (CD)

日本分光 J820P
　

蛍光分光光度計

日本分光　FP-8600(分光蛍光光度計)
浜松ホトニクス Quantaurus-Qy(絶対PL量子収率測定装置)
浜松ホトニクス Quantaurus-Tau(蛍光寿命測定装置)

フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)

日本分光 FT/IR-4700
　

旋光度計

日本分光　P-2300
　

紫外可視近赤外分光光度計 (UV/VIS/NIR)

Perkin Elmer Lamda950
　

カメラ（超高速度、高速度、PIV等）

超高速度撮影装置（持出可）

NAC FS501、島津製作所　HyperVision HPV-2A
　

高速度ビデオ装置（持出可）

NAC HS-4540-2、NAC MEMECAM GX-8
　

熱画像解析装置（持出可）

ニコン LAIRD 3ASH、セキテクノトロン SC7500STEC
　

誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-AES)

誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-AES)

堀場・JOVIN YBON ULTIMA2
CEM Japan MARS6

核磁気共鳴装置 (FT-NMR)

柳戸地区

日本電子 ECZ-600R (600MHz)、ECA-500 (500MHz)、ECX-400P (400MHz)
　

医学地区

Bruker Biospin AVANCEⅢ600
　

質量分析装置

質量分析装置 (MS)

日本電子 JMS-700/GI 、JMS-AMSUN200/GI (K-9)、JMS-T100TD(AccuTOF)、島津　AXIMA
　

液体クロマトグラフィ (HPLC)

日本分光 HPLC
　

電子スピン共鳴分析装置 (ESR)

柳戸地区

日本電子 JES-FA100
　

医学地区

Bruker Biospin EMXmicro
　

熱分析装置

熱分析システム (DSC, TG/DTA, TMA)

SII EXSTAR-6000
　

粘弾性測定装置

動的粘弾性測定装置（DMA）

TA Instruments Q800KG
　

レオメータ

TA Instruments　AR-G2 KG
　

粒子径等測定装置

ナノ粒子トラッキング解析式　粒子径測定装置

Nanosight Pro
　

フロー式粒子像分析装置

Malvern FPIA-3000
　

粒子径ゼータ電位分子量測定装置

Malvern ゼータサイザーナノZS
　

その他

イオンミリング装置、ダイヤモンドワイヤソー、ガラスナイフ作成器、 超ミクロトーム、オスミウムコーター、カーボンコーター、イオンスパッタ、真空蒸着装置、実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、画像処理システム など