機器一覧
顕微鏡
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JEOL JEM-2100(EDX付)
日立S-4800(EDX(堀場 EMAX EX-250)付)、S-4300(EDX(堀場 EMAX EX-220)付)
日立（セイコーインスツルメンツ）AFM5400E, AFM5300L
ライカマイクロシステムズ DVM5000
X線光電子分析装置（ESCA）
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アルバック･ファイ Quantera-SXM
X線CTスキャン
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SKYSCA SkyScan 1172
波長分散型蛍光Ｘ線分析装置
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ブルカー・AXS社製 S8 TIGER-MA 1kW
X線回折装置
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リガク FR-E SuperBright
有機微量元素分析装置
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J･Science･Lab CHNコーダー/JM10
分光計
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日本分光 J820P
日本分光 FP-8600(分光蛍光光度計)
浜松ホトニクス Quantaurus-Qy(絶対PL量子収率測定装置)
浜松ホトニクス Quantaurus-Tau(蛍光寿命測定装置)
日本分光 FT/IR-4700
日本分光 P-2300
Perkin Elmer Lamda950
カメラ（超高速度、高速度、PIV等）
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NAC FS501、島津製作所 HyperVision HPV-2A
NAC HS-4540-2、NAC MEMECAM GX-8
ニコン LAIRD 3ASH、セキテクノトロン SC7500STEC
誘導結合プラズマ発光分析装置(ICP-AES)
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堀場・JOVIN YBON ULTIMA2
CEM Japan MARS6
核磁気共鳴装置 (FT-NMR)
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日本電子 ECZ-600R (600MHz)、ECA-500 (500MHz)、ECX-400P (400MHz)
Bruker Biospin AVANCEⅢ600
質量分析装置
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日本電子 JMS-700/GI 、JMS-AMSUN200/GI (K-9)、JMS-T100TD(AccuTOF)、島津 AXIMA
日本分光 HPLC
電子スピン共鳴分析装置 (ESR)
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日本電子 JES-FA100
Bruker Biospin EMXmicro
熱分析装置
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SII EXSTAR-6000
粘弾性測定装置
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TA Instruments Q800KG
TA Instruments AR-G2 KG
粒子径等測定装置
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Nanosight Pro
Malvern FPIA-3000
Malvern ゼータサイザーナノZS
その他
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イオンミリング装置、ダイヤモンドワイヤソー、ガラスナイフ作成器、 超ミクロトーム、オスミウムコーター、カーボンコーター、イオンスパッタ、真空蒸着装置、実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、画像処理システム など
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