機器分析分野

装置の概要
　本装置は、イオン源をはじめとする各種パラメータのオートチューニング機能を搭載した、フルコンピュータコントロールを特長とする高分解能分析計です。ルーチン測定はもとより高分解能測定など、あらゆるモードに対して高品質な分析結果 が容易に得られます。 高いイオン収束作用をもつQレンズを用いており、従来形装置と比べて同一分解能条件における使用可能スリット幅を広く設定でき、超微量高感度分析が可能。さらに、高加速イオン源と高電圧印加コンバージョンダイノード形イオン検出器を装備しており、正負イオンの高感度測定に極めて有効です。分解能は、60,000以上です。高質量領域においても正確に質量決定することができます。主スリット、中間スリットおよびコレクタスリットは、すべてコンピュータ制御されています。このため極めて容易な操作で測定に必要な分解能が再現性良く得られます。

仕様
測定質量範囲：1～2,400ダルトン（加速電圧 1 kVで24,000）
分解能：60,000
イオン源：EI、FAB
測定モード：低分解能測定、高分解能測定、正・負イオン
その他：リンクトスキャン

仕様
測定質量範囲：1～1,000ダルトン
分解能：>2,000
試料導入：GC
イオン源：EI
測定モード：低分解能測定

仕様
測定質量範囲：1～2,000ダルトン（加速電圧 2.5 kV）
分解能：6,000
イオン源：ESI、DART
測定モード：低分解能測定、高分解能測定、
　　　　　　正・負イオン検出可

仕様
イオン源：MALDI
測定モード：MS測定、MS/MS測定
MS測定：質量範囲 m/z 100-12,000；
　　　　　分解能＞8,000；
　　　　　質量精度 5 ppm 外部標準
MS/MS測定：質量範囲 m/z 100-5,000；
　　　　　　　質量精度 20 ppm 外部標準