装置の概要
テラヘルツ分光走査型顕微鏡装置で発生・検出する電磁波の周波数帯域は、未開拓領域と呼ばれるテラヘルツTHz（直線偏光）です。電波と赤外線との中間なので、双方の特徴を合わせ持っています。すなわち、電波のように紙やプラスチックなどを透過し、光のように鏡やレンズで取り扱うことができます。電波より波長が短い分、イメージングにおける空間分解能を期待できます。さらに、材料や試薬などのテラヘルツ帯における吸収スペクトルを計測に用いることができます。
本テラヘルツ分光走査型顕微鏡の特徴を以下に記します。標準的には透過型のテラヘルツ分光走査型顕微鏡ですが、光学系の配置と制御ソフトウェアによって、空間分解の要/不要、透過型/反射型の計測ができます。具体的には試料によって、空間分解しない/２次元走査/３次元走査と透過/反射が選択します。光学系の配置を変更する際にはレーザーの精密な調整（＜１０ミクロン）が必要となりますが、その為のレーザーのアライメントモジュールが用意されています。詳しくは、機器分析分野事務室または協力員まで気軽にお問い合わせ下さい。クラス３Bのレーザーを用いていますので、安全面には十分注意する必要があります。また、光学部品を汚損しない様にしなければなりません。それらにさえ留意すれば、容易にテラヘルツ波が扱えます。 |
