新規機能性分子の創製・ナノ材料研究を最新の分析機器でサポート
●研究支援
●研究内容とスタッフ
極微世界からナノテクノロジーを支える最先端分析機器の提供
最新機器分析技術情報拠点として教育・研究支援への展開
最新分析機器の学外の方への利用開放
近江 靖則 准教授
Yasunori Oumi, Ph. D.
HomePage
犬塚 俊康 助教
Toshiyasu Inuzuka, Ph. D.
鎌足 雄司 助教
Yuji O. Kamatari, Ph. D.
HomePage
村山 幸一 助教
Kouichi Murayama, Ph. D.
●イベント・講習会
平成28年度機器利用講習会参加申し込み及び機器利用申請を開始しました。
申請書:
Excelファイル
申込締切:平成28年4月4日(月)(締切を過ぎても、申請書は随時受付いたします)
申込・問い合わせ:E-mail:
kiki@gifu-u.ac.jp
(@を小文字にしてください。)
●設備・機器(柳戸地区)
透過型・走査型電子顕微鏡 (TEM)(SEM)
JEOL JEM-2100、日立 H-7000
S-4800、S-4300、S-3000N
エネルギー分散型X線分析装置 (EDX)
堀場 EMAX EX-220、EX-250
New
走査型プローブ顕微鏡システム (SPM)
セイコーインスツルメンツSPI3800
デジタルマイクロスコープ
ライカマイクロシステムズ DVM5000
X線光電子分析装置(ESCA)
アルバック・ファイ Quantera-SXM
X線CTスキャン
SKYSCA SkyScan 1172
有機微量元素分析装置 (CHNO)
J・Science・Lab CHNコーダー/JM10
、
円二色性分散計 (CD)
日本分光 J820P
超高速度撮影装置(持出可)
NAC FS501
島津製作所 HyperVision HPV-2A
、
光増幅光学装置(持出可)
NAC ILS
高速度ビデオ装置(持出可)
NAC HS-4540-2
NAC MEMECAM GX-8
、
熱画像解析装置(持出可)
ニコン LAIRD 3ASH
セキテクノトロン SC7500STEC
、
粒子画像流速測定装置(PIV)(持出可)
日本レーザー PIV
蛍光分光光度計
蛍光寿命測定装置
浜松ホトニクス Quantaurus-Tau
、
絶対PL量子収率測定装置
浜松ホトニクス Quantaurus-Qy
、
分光蛍光光度計
日本分光 FP-8600
、
フェムト秒ファイバーレーザー
AISIN BS-60-YS(持出可)
テラヘルツ分光走査型顕微鏡
THz-TDS
誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-AES)
堀場・JOVIN YBON ULTIMA2
フーリエ変換核磁気共鳴装置 (FT-NMR)
日本電子 ECA-600 (600MHz)、ECA-500 (500MHz)、ECX-400P (400MHz)、NM-93030CPM (固体測定ユニット)
質量分析装置 (MS)
日本電子 JMS-700/GI 、
JMS-AMSUN200/GI (K-9)、
GC MateII、 JMS-T100TD、
島津 AXIMA
New
液体クロマトグラフィ (HPLC)
Agilent-1100
島津 Nano-LC
New
電子スピン共鳴分析装置 (ESR)
日本電子 JES-FA100
フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
透過型分光計
Perkin Elmer Spectrum100
、
顕微・反射型分光計
日本分光FT-IR-460Plus、IRT-30-16
プローブ式分光計(持出可)
米ASI社製React IR 4000
顕微・接触型分光計
米SensIR社製Illuminat IR
旋光度計
日本分光 P-2300
、
顕微レーザーラマン分光システム
日本分光 NRS-1000
紫外可視近赤外分光光度計 (UV/VIS/NIR)
Perkin Elmer Lamda950
、
熱分析システム (DSC, TG/DTA, TMA)
SII EXSTAR-6000
粘弾性測定装置
動的粘弾性測定装置(DMA)
TA Instruments Q800KG
、
レオメータ
TA Instruments AR-GT2KG
、
フロー式粒子像分析装置
Malvern FPIA-3000
、
粒子径ゼータ電位分子量測定装置
Malvern ゼータサイザーナノZS
、
※その他/
イオンミリング装置
、ダイヤモンドワイヤソー、ガラスナイフ作成器、 超ミクロトーム、
オスミウムコーター
、カーボンコーター、イオンスパッタ、真空蒸着装置、実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、画像処理システム など
●設備・機器(医学地区)
核磁気共鳴分光装置(NMR)
Bruker Biospin AVANCEV800、
Bruker Biospin AVANCEV600
超高輝度X線回析装置
リガク FR-E SuperBright
電子スピン共鳴装置(ESR)
Bruker Biospin EMXmicro
● お問い合わせ
TEL:058-293-2035, FAX:058-293-2036,
E-mail:kiki@gifu-u.ac.jp
Last update 2017. 4. 7
分野長挨拶
沿 革
組 織
利用方法
学内利用料金(学内専用)
利用申請書
時間外利用申請書
(ダウンロード)
受託試験・受託分析
案内図
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Text
・『機器分析分ナビ』発刊(化学同人)
・東海地区国立大学法人機器・分析センター
・全国機器分析センター
▼
Archives
・機器分析分野年報一覧
・第11回国立大学法人機器・分析センター会議 (岐阜、10月26日)
・大型精密機器高度利用公開セミナー
平成28年度
平成27年度
平成26年度
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平成19年度
平成18年度
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平成16年度
・寒剤・高圧ガス取扱講習会
平成28年度
平成27年度
平成26年度
平成25年度
平成24年度
・機器利用講習会(学内向け)
平成18年度
平成17年度
機器分析分野講習会・固体NMRトレーニング(7月6日、7日)
平成16年度
・セミナー(学内向け)
先端科学ゆめ講座
機器分析分野セミナー(H15年11月27日)
訪日学者講演会(H15年11月25日)
▼
Questionnaire
・受託試験アンケート調査結果(平成18年10月)
・外部資金獲得状況調査ご協力のお願い(平成17年5月)
(
調査用紙
)