新規機能性分子の創製・ナノ材料研究を最新の分析機器でサポート
●研究支援
●研究内容とスタッフ
極微世界からナノテクノロジーを支える最先端分析機器の提供
最新機器分析技術情報拠点として教育・研究支援への展開
最新分析機器の学外の方への利用を開放しました!
近江 靖則 准教授
Yasunori Oumi, Ph. D.
HomePage
鎌足 雄司 助教
Yuji O. Kamatari, Ph. D.
HomePage
犬塚 俊康 助教
Toshiyasu Inuzuka, Ph. D.
●イベント・講習会
機器利用講習会参加申し込み及び機器利用申請を開始しました。
申請書:講習対象機器(柳戸地区)
、
講習対象機器(医学地区)
申込締切:平成24年4月2日(月)(締切を過ぎても、申請書は随時受付いたします)
申込・問い合わせ:E-mail:
kiki@gifu-u.ac.jp
(@を小文字にしてください。)
●設備・機器(柳戸施設)
透過型・走査型電子顕微鏡 (TEM)(SEM)
JEOL JEM-2100、日立 H-7000
S-4800、S-4300、S-3000N
エネルギー分散型X線分析装置 (EDX)
堀場 EMAX EX-220
走査型プローブ顕微鏡システム (SPM)
セイコーインスツルメンツSPI3800
デジタルマイクロスコープ
ライカマイクロシステムズ DVM5000
New
X線光電子分析装置(ESCA)
アルバック・ファイ Quantera-SXM
X線CTスキャン
SKYSCA SkyScan 1172
New
有機微量元素分析装置 (CHNO)
J・Science・Lab CHNコーダー/JM10
New
円二色性分散計 (CD)
日本分光 J820P
超高速度撮影装置(持出可)
NAC FS501
島津製作所 HyperVision HPV-2A
New
光増幅光学装置(持出可)
NAC ILS
高速度ビデオ装置(持出可)
NAC HS-4540-2
NAC MEMECAM GX-8
New
熱画像解析装置(持出可)
ニコン LAIRD 3ASH
セキテクノトロン SC7500STEC
New
粒子画像流速測定装置(PIV)(持出可)
日本レーザー PIV
蛍光分光光度計
蛍光寿命測定装置
浜松ホトニクス Quantaurus-Tau
New
絶対PL量子収率測定装置
浜松ホトニクス Quantaurus-Qy
New
分光蛍光光度計
日本分光 FP-8600
New
フェムト秒ファイバーレーザー
AISIN BS-60-YS(持出可)
テラヘルツ分光走査型顕微鏡
THz-TDS
誘導結合プラズマ発光分析装置 (ICP-AES)
堀場・JOVIN YBON ULTIMA2
フーリエ変換核磁気共鳴装置 (FT-NMR)
日本電子 ECA-600 (600MHz)、ECA-500 (500MHz)、ECX-400P (400MHz)、NM-93030CPM (固体測定ユニット)
質量分析装置 (MS)
日本電子 JMS-700/GI 、
JMS-AMSUN200/GI (K-9)、
GC MateII、 JMS-T100TD
New
液体クロマトグラフィ (HPLC)
Agilent-1100
電子スピン共鳴分析装置 (ESR)
日本電子 JES-FA100
フーリエ変換赤外分光光度計 (FT-IR)
透過型分光計
Perkin Elmer Spectrum100
New
顕微・反射型分光計
日本分光FT-IR-460Plus、IRT-30-16
プローブ式分光計(持出可)
米ASI社製React IR 4000
顕微・接触型分光計
米SensIR社製Illuminat IR
旋光度計
日本分光 P-2300
New
顕微レーザーラマン分光システム
日本分光 NRS-1000
紫外可視近赤外分光光度計 (UV/VIS/NIR)
Perkin Elmer Lamda950
New
熱分析システム (DSC, TG/DTA, TMA)
SII EXSTAR-6000
粘弾性測定装置
動的粘弾性測定装置(DMA)
TA Instruments Q800KG
New
レオメータ
TA Instruments AR-GT2KG
New
フロー式粒子像分析装置
Malvern FPIA-3000
New
粒子径ゼータ電位分子量測定装置
Malvern ゼータサイザーナノZS
New
※その他/
イオンミリング装置
、ダイヤモンドワイヤソー、ガラスナイフ作成器、 超ミクロトーム、
オスミウムコーター
、カーボンコーター、イオンスパッタ、真空蒸着装置、実体顕微鏡、レーザー照明装置、錠剤成型機、画像処理システム など
●設備・機器(医学施設)
核磁気共鳴分光装置(NMR)
Bruker Biospin AVANCEV800、
Bruker Biospin AVANCEV600、
Bruker Biospin AVANCEV500
超高輝度X線回析装置
リガク FR-E SuperBright
電界放射型透過電子顕微鏡(TEM)
日本電子 JEM-2100FGK
電子スピン共鳴装置(ESR)
Bruker Biospin EMXmicro
ルーチン用クリオスタット
LEICA CM1850
● お問い合わせ
TEL:058-293-2035
FAX:058-293-2036
E-mail:kiki@gifu-u.ac.jp
Last update 2010. 5. 7
学外からの依頼分析を開始しました!!
分野長挨拶
沿 革
組 織
利用方法
学内利用料金(学内専用)
利用申請書(柳戸施設)
利用申請書(医学施設)
時間外利用申請書
(ダウンロード)
受託試験
案内図
『機器分析分ナビ』発刊(化学同人)
受託試験・受託分析
受託試験アンケート調査結果
(平成18年10月)
東海地区国立大学法人機器・分析センター
全国機器分析センター
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機器分析分野年報一覧
第11回国立大学法人機器・分析センター会議 (岐阜、10月26日)
大型精密機器高度利用公開セミナー
平成20年度
平成19年度
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平成17年度
平成16年度
機器利用講習会(学内向け)
平成18年度
平成17年度
機器分析分野講習会・固体NMRトレーニング(7月6日、7日)
H16
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(H15年11月25日(火)
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