微粒子の観測には走査電子顕微鏡(SEM)を用います。 真空中で試料に電子線を照射し、画像を映し出します。 蒸着をせずにこれを行うと、試料表面が帯電してしまい、 奇麗な画像信号を得ることができません。 そのために金属や炭素を気化させ微粒子の表面に コーティングします。 |
原料の種類 | 長所 | 短所 |
C(炭素) | 他の主要なピークと重ならない。 | 微粒子本来のCなのか、蒸着によるCなのか区別できない。 |
Pt(白金) | Cと重ならない。 | S(硫黄)やP(リン)のピークと重なるため、区別がしにくい。 |
Os(オスミウム) | 主要元素と重なりにくい。 | SやPと若干重なるが、Ptと比べ顕著には出ない。 |
使用している分析機器: | 日立 S-4300(SEM) B(ホウ素)より重い元素を検出できる |
参考: | 岐阜大学生命科学総合研究支援センター 機器分析分野 |